| |
 |
 |
Altres actes |
PLANIFICACIÓN FISCAL DE LA I+D+i
|
|
 |
 |
 |
 |
| |
La Direcció General de Recerca, Desenvolupament tecnològic i Innovació es complau a convidar-vos a les jornades de certificació fiscal d'R+D+I organitzades per AENOR, entitat dedicada al desenvolupament de la normalització i la certificació (N+C) en tots els sectors industrials i de serveis.
La certificació de Projectes d'R+D+i permet que les empreses i organismes, independentment de la seva grandària o del sector econòmic al que pertanyin, puguin identificar les activitats que realitzen, susceptibles de ser considerades d'R+D+i. Aquest certificat facilita l'accés a les deduccions fiscals previstes, permetent l'obtenció de l'informe motivat del Ministeri d'Indústria, Turisme i Comerç, vinculant per al Ministeri d'Hisenda.
Les jornades de certificació tindran lloc a l’auditori -dia 16- del parc tecnològic de les Illes Balears (ParcBIT) els propers dies 15 i 16 de març de 2010.
El formulari d'inscripció que ha de ser retornat abans de dia 10 de març de 2010 a l'adreça de correu electrònic mrodriguez@dgrdi.caib.es.
OBJETO Y PÚBLICO OBJETIVO
La jornada permitirá conocer qué instrumentos de apoyo económico a la I+D+i existen y pueden complementar la propuesta incentivadora a la I+D+i de la Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació.
En la primera parte de la jornada se presentarán los incentivos fiscales a las actividades de I+D+i, Los criterios de elegibilidad y los mecanismos para su obtención y aplicación.
En la segunda parte de la jornada se presentará un nuevo incentivo de naturaleza no tributaria y compatible con otras medidas de apoyo público, que permite a las organizaciones beneficiarse de la reducción del 40% en la cuota de Seguridad Social del personal dedicado en exclusiva a actividades de I+D+i con total seguridad jurídica.
La jornada será útil para Directores y Responsables de Departamentos de Administración, Económico-financiero, Fiscal, R.R.H.H.
Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació
09.30 h Entrega de documentación
09:45 Presentación de la Jornada
Pere Antoni Oliver Reus.
Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació
10:00 Deducción Fiscal por Proyectos de I+D+i
Gerardo Malvido.
Dirección de Desarrollo, AENOR
10.30 Caso práctico
Empresa de Mallorca
11.00 Pausa café
11:15 Bonificación de Personal Investigador dedicado en exclusiva a I+D+i
Gerardo Malvido.
Dirección de Desarrollo, AENOR
11.45 Debate
12:00 Fin de la jornada
16 de Març de 2010 - 16 de Març de 2010
9.30h a 12h |
Més informació
|
|
 |
 |
Altres actes |
PLANIFICACIÓN FISCAL DE LA I+D+I: MUESTRARIOS
|
|
 |
 |
 |
 |
| |
La Direcció General de Recerca, Desenvolupament tecnològic i Innovació es complau a convidar-vos a les jornades de certificació fiscal d'R+D+I organitzades per AENOR, entitat dedicada al desenvolupament de la normalització i la certificació (N+C) en tots els sectors industrials i de serveis.
La certificació de Projectes d'R+D+i permet que les empreses i organismes, independentment de la seva grandària o del sector econòmic al que pertanyin, puguin identificar les activitats que realitzen, susceptibles de ser considerades d'R+D+i. Aquest certificat facilita l'accés a les deduccions fiscals previstes, permetent l'obtenció de l'informe motivat del Ministeri d'Indústria, Turisme i Comerç, vinculant per al Ministeri d'Hisenda.
Les jornades de certificació tindran lloc a l’auditori -dia 16- del parc tecnològic de les Illes Balears (ParcBIT) els propers dies 15 i 16 de març de 2010.
El formulari d'inscripció que ha de ser retornat abans de dia 10 de març de 2010 a l'adreça de correu electrònic mrodriguez@dgrdi.caib.es.
OBJETO Y PÚBLICO OBJETIVO
La jornada permitirá conocer qué instrumentos de apoyo económico a la I+D+i existen y pueden complementar la propuesta incentivadora a la I+D+i de la Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació.
En la jornada se analizarán los diferentes incentivos fiscales a las actividades de I+D+i, tanto de Proyectos de I+D+i como de Muestrarios con el objeto de conocer las características que los diferencian y su potencial de aplicación.
En la segunda parte de la jornada se presentará un nuevo incentivo de naturaleza no tributaria y compatible con otras medidas de apoyo público, que permite a las organizaciones beneficiarse de la reducción del 40% en la cuota de Seguridad Social del personal dedicado en exclusiva a actividades de I+D+i con total seguridad jurídica.
La jornada será útil para Directores y Responsables de Departamentos de Administración, Económico-financiero, Fiscal, R.R.H.H.
PLANIFICACIÓN FISCAL DE LA I+D+i: MUESTRARIOS
16 de marzo de 2010
Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació
16.30 h Entrega de documentación
16:45 Presentación de la Jornada
Pere Antoni Oliver Reus.
Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació
17:00 Deducción Fiscal por Proyectos de I+D+i
Gerardo Malvido.
Dirección de Desarrollo, AENOR
17.30 Deducción Fiscal por Muestrarios de Textil, Calzado, Madera, Mueble, juguete y marroquinería
Gerardo Malvido.
Dirección de Desarrollo, AENOR
18:00 Bonificación de Personal Investigador dedicado en exclusiva a I+D+i
Gerardo Malvido.
Dirección de Desarrollo, AENOR
18.30 Debate
18:45 Fin de la jornada
16 de Març de 2010 - 16 de Març de 2010
16.30H A 18.45H |
|
|
|
|
|
|