Idioma
 
 
 
Agenda
Tornar  |  home

 
Setembre 2010
L M M J V S D
    1 2 3 4 5
6 7 8 9 10 11 12
13 14 15 16 17 18 19
20 21 22 23 24 25 26
27 28 29 30

Actes CETEBAL Altres actes    
rss
Set
27
1º Congreso Iberoamericano Internacional de Arquitectura Interior
Veure més
Set
28
Feria Hábitat Valencia
Veure més
Noticies i Novetats
01 - 09 - 2010
CETEBAL convidat a l’acte de presentación de l’ Associació de Joves Investigadors de Balears
21 - 07 - 2010
Conclusions de les Jornades Ajudes Renovació Finestres
16 - 07 - 2010
Realitzat a CETEBAL el Curso Como Innovar en Models de Negoci
 
rss
 
 
 
Actes CETEBAL
Seminari Aplicació del Marcat CE en portes i finestres

Lloc: MANACOR
Preu: GRATUITO

 

El Marcat CE representa el nivell mínim de seguretat que ha de tenir el producte acabat per poder ser comercialitzat a Europa, i garantitza que compleix els requisits essencials de seguretat de la Directiva 89/106/CEE "Productos de Construcción". És de caràcter OBLIGATORI, pel que tots els fabricants/tallers haurà de vendre totes les finestres i portes amb el Marcat CE. A partir del dia 1 de febrer de 2010 no es podran fabricar ni comercialitzar finestres i/o portes sense el Marcat CE obligatori.
En el seminari es donarà resposta a les següents qüestions:

• TENC QUE MARCAR LES MEVES FINESTRES AMB MARCAT CE?
• COM HO DE FER ?
• M’HAN ARRIBAT DIFERENTS PROPOSTES, ASSAIGS EN CASCADA, ASSAIGS COMPARTITS PODEN SER VÀLIDES?
• ÉS NECESSARI DISPOSAR DE LA ISO 9000?
• QUINES CARACTERÍSTIQUES TÉ LA FINESTRA?

Serà un seminari molt dinàmic en el que tècnics de CETEBAL vos formarà del Marcat CE en finestres i portes des d’un punt de vista pràctic i amb participació activa dels assistents.
El seminari és gratuït, prèvia inscripció al 971.55.96.96 o a info@cetebal.com i les places són limitades.
En cas d’estar interessat, contacti el més aviat possible amb CETEBAL

16 de Març de 2010 - 17 de Març de 2010
De 16 a 21 h

 

 
Altres actes
PLANIFICACIÓN FISCAL DE LA I+D+i

Lloc: PARC BIT

 

La Direcció General de Recerca, Desenvolupament tecnològic i Innovació es complau a convidar-vos a les jornades de certificació fiscal d'R+D+I organitzades per AENOR, entitat dedicada al desenvolupament de la normalització i la certificació (N+C) en tots els sectors industrials i de serveis.
La certificació de Projectes d'R+D+i permet que les empreses i organismes, independentment de la seva grandària o del sector econòmic al que pertanyin, puguin identificar les activitats que realitzen, susceptibles de ser considerades d'R+D+i. Aquest certificat facilita l'accés a les deduccions fiscals previstes, permetent l'obtenció de l'informe motivat del Ministeri d'Indústria, Turisme i Comerç, vinculant per al Ministeri d'Hisenda.
Les jornades de certificació tindran lloc a l’auditori -dia 16- del parc tecnològic de les Illes Balears (ParcBIT) els propers dies 15 i 16 de març de 2010.
El formulari d'inscripció que ha de ser retornat abans de dia 10 de març de 2010 a l'adreça de correu electrònic mrodriguez@dgrdi.caib.es.

OBJETO Y PÚBLICO OBJETIVO
La jornada permitirá conocer qué instrumentos de apoyo económico a la I+D+i existen y pueden complementar la propuesta incentivadora a la I+D+i de la Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació.
En la primera parte de la jornada se presentarán los incentivos fiscales a las actividades de I+D+i, Los criterios de elegibilidad y los mecanismos para su obtención y aplicación.
En la segunda parte de la jornada se presentará un nuevo incentivo de naturaleza no tributaria y compatible con otras medidas de apoyo público, que permite a las organizaciones beneficiarse de la reducción del 40% en la cuota de Seguridad Social del personal dedicado en exclusiva a actividades de I+D+i con total seguridad jurídica.
La jornada será útil para Directores y Responsables de Departamentos de Administración, Económico-financiero, Fiscal, R.R.H.H.
Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació
09.30 h Entrega de documentación
09:45 Presentación de la Jornada
Pere Antoni Oliver Reus.
Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació
10:00 Deducción Fiscal por Proyectos de I+D+i
Gerardo Malvido.
Dirección de Desarrollo, AENOR
10.30 Caso práctico
Empresa de Mallorca
11.00 Pausa café
11:15 Bonificación de Personal Investigador dedicado en exclusiva a I+D+i
Gerardo Malvido.
Dirección de Desarrollo, AENOR
11.45 Debate
12:00 Fin de la jornada

16 de Març de 2010 - 16 de Març de 2010
9.30h a 12h

Més informació

Agenda_i_inscripcio_16_BIT_Mar_mati.pdf.

 

 
Altres actes
PLANIFICACIÓN FISCAL DE LA I+D+I: MUESTRARIOS


 

La Direcció General de Recerca, Desenvolupament tecnològic i Innovació es complau a convidar-vos a les jornades de certificació fiscal d'R+D+I organitzades per AENOR, entitat dedicada al desenvolupament de la normalització i la certificació (N+C) en tots els sectors industrials i de serveis.
La certificació de Projectes d'R+D+i permet que les empreses i organismes, independentment de la seva grandària o del sector econòmic al que pertanyin, puguin identificar les activitats que realitzen, susceptibles de ser considerades d'R+D+i. Aquest certificat facilita l'accés a les deduccions fiscals previstes, permetent l'obtenció de l'informe motivat del Ministeri d'Indústria, Turisme i Comerç, vinculant per al Ministeri d'Hisenda.
Les jornades de certificació tindran lloc a l’auditori -dia 16- del parc tecnològic de les Illes Balears (ParcBIT) els propers dies 15 i 16 de març de 2010.
El formulari d'inscripció que ha de ser retornat abans de dia 10 de març de 2010 a l'adreça de correu electrònic mrodriguez@dgrdi.caib.es.

OBJETO Y PÚBLICO OBJETIVO
La jornada permitirá conocer qué instrumentos de apoyo económico a la I+D+i existen y pueden complementar la propuesta incentivadora a la I+D+i de la Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació.
En la jornada se analizarán los diferentes incentivos fiscales a las actividades de I+D+i, tanto de Proyectos de I+D+i como de Muestrarios con el objeto de conocer las características que los diferencian y su potencial de aplicación.
En la segunda parte de la jornada se presentará un nuevo incentivo de naturaleza no tributaria y compatible con otras medidas de apoyo público, que permite a las organizaciones beneficiarse de la reducción del 40% en la cuota de Seguridad Social del personal dedicado en exclusiva a actividades de I+D+i con total seguridad jurídica.
La jornada será útil para Directores y Responsables de Departamentos de Administración, Económico-financiero, Fiscal, R.R.H.H.

PLANIFICACIÓN FISCAL DE LA I+D+i: MUESTRARIOS
16 de marzo de 2010
Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació
16.30 h Entrega de documentación
16:45 Presentación de la Jornada
Pere Antoni Oliver Reus.
Direcció General de Recerca, Desenvolupament Tecnològic i Innovació
17:00 Deducción Fiscal por Proyectos de I+D+i
Gerardo Malvido.
Dirección de Desarrollo, AENOR
17.30 Deducción Fiscal por Muestrarios de Textil, Calzado, Madera, Mueble, juguete y marroquinería
Gerardo Malvido.
Dirección de Desarrollo, AENOR
18:00 Bonificación de Personal Investigador dedicado en exclusiva a I+D+i
Gerardo Malvido.
Dirección de Desarrollo, AENOR
18.30 Debate
18:45 Fin de la jornada

16 de Març de 2010 - 16 de Març de 2010
16.30H A 18.45H

 

 

 

 
  Avís Legal | Contacte CETEBAL
C/Forners, 80-81 Pol. Industrial de Manacor 07500
Tel 971 55 96 96 / Fax 971 84 62 19
E-mail: